Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-ARM1300S Trans­missions­elektronen­mikroskop

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JEOL JEM-ARM1300S Trans­missions­elektronen­mikroskop

Das ARM1300S ist ein side-entry-Ultrahochspannungs Mikroskop für in-situ Abbildung auf atomarem Niveau. Die moderne Rechnersteuerung einschließlich Remote Control macht es zu einem Elektronenmikroskop der neuesten Generation.

Das ARM1300S ist für ein breites Anwendungsspektrum einsetzbar:

  • atomare Untersuchung von Metallen, anorganischen Materialien und organischen, chemischen Verbindungen
  • Beobachtung der Strahlenschädigung von Proben vor und nach der Bestrahlung
  • 3D Abbildung dicker Proben (Tomographie)
  • Elementanalysen verschiedenster Materialien

Spezifikationen

Elektronenoptik

Beschleu­nigungs­spannung

400 bis 1300 kV

Punkt-Auflösung

0.12 nm

Linien-Auflösung

0.10 nm

Ver­größerungs­bereich

x200 bis max. x2.000.000

Probenbühne

Typ

Side-Entry-Goniometer

Verfahrwege

X: ±1 mm
Y: ±1 mm
Z: ±0.5 mm (abhängig vom Polschuh)
T: ±60°

Optionen (Auswahl)

  • In-situ Observation mit verschiedenen Probenhaltern (Double Tilt, Heating, Cooling, Straining, Cryotransfer etc.)
  • Energiefilterung (GATAN GIF)
  • Ion beam Accelerator
    - für die Untersuchung von Strahlenschädigung
    - für die Entwicklung neuer Materialien
    - Modifikation von Oberflächenstrukturen und -eigenschaften

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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