Massenspektrometer

JEOL JMS-T2000GC AccuTOF GC-Alpha

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JEOL JMS-T2000GC AccuTOF GC-Alpha

Das JMS-T2000GC (AccuTOF GC-Alpha) ist ein vollautomatisches, hochauflösendes TOF-MS-System. Durch die auf 4 Meter verlängerte Flugstrecke erreicht das System eine Auflösung von 30.000. Serienmäßig ist eine Elektronenstoßionisationsquelle (EI) enthalten. Optional ist eine Vielzahl zusätzlicher Ionenquellen verfügbar, darunter z.B.:

• Feldemission/Felddesorptionsionenquelle (EI/FI/FD)

• Photoionisationsquelle (PI/EI)

• Chemische Ionissationsquelle (CI)

Durch die Verwendung von zusätzlichen weichen Ionisationsmethoden (wie z.B. PI oder FI) können Molekülionen einfach identifiziert werden, was die Strukturaufklärung erleichtert. Sämtliche Ionisationsquellen können schnell und ohne Bruch des Vakuums gewechselt werden. Das Gerät kann damit insgesamt über 7 Ionisationsmethoden (EI, CI, PI, FI, FD, DIP, DEP, FD) verfügen.

Die Proben können klassisch über den optionalen Gaschromatographen eingebracht werden. Alternativ sind optional auch Schubstangen (Direct Exposure Probe / DEP bzw. Direct Insertion Probe / DIP) erhältlich, welche eine direkte Einbringung von festen oder flüssigen Proben ermöglichen.

Das Design des Massenanalysators als Reflektron-Flugzeitmassenspektrometer ermöglicht sowohl qualitative als auch quantitative Messungen mit hochpräziser Massenbestimmung. Durch die intuitive Handhabung können zuverlässige und präzise Daten schnell und einfach gewonnen werden.

Spezifikationen

Gerätetyp

TOF-Massen­spektro­meter

Massen­genauigkeit


≤ 1 ppm (mit internem Standard

Auflösungs­vermögen

R ≥ 30,000 (FWHM)

Empfind­lich­keit



1 pg Octafluoronaphthalin, S/N ≥ 300

Scan-Geschwindig­keit

Bis zu 50 Spektren/sec

Massen­bereich

m/z 4-6,000

Ionisations­quellen

EI, CI, FI, PI, FD, DIP, DEP, FD

Proben­zuführung

GC, DEP, DIP, FD probe

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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