JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - Aktuelles
 
 
60 Years NMR + 50 Years SEM

Aktuelles

  • 19.06.2017  JEOL JEM-Z200FSC CRYO ARM™ 200 Feld-Emissions Mikroskop

    JEOL JEM-Z200FSC CRYO ARM™ 200 Feld-Emissions Mikroskop

    CRYO ARM™ 200 - ein ultrahochauflösendes Kryo-Elektronenmikroskop.

  • 19.06.2017  JEOL IB-19530 Cross Section Polisher

    JEOL IB-19530 Cross Section Polisher

    JEOL IB-19530 Cross Section Polisher - Präparationswerkzeug zur Herstellung von hochpräzisen Querschliffen.

  • 26.04.2017  JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    Die JEOL Mikrosonde JXA-8530FPlus ist bereits die dritte Generation der erfolgreichen Elektronenstrahl-Mikrosonden-Serie mit patentierter In-Lens- Feldemissionsquelle.

  • 26.04.2017  JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    Das JSM-IT500 ist die neueste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung.

  • 26.04.2017  JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA ist ein „Time-of-Flight“ Massenspektrometer, welches durch die revolutionäre „Multi-turn“-Technologie kombiniert mit perfekter Fokussierung höchste Auflösung in einem äußerst kompakten Design erreicht.

  • 26.04.2017  JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    Das neue Mehrstrahlsystem JEOL JIB-4700F ist eine ideale Plattform für sämtliche Fragestellungen von der morphologischen, chemischen bis hin zur kristallographischen Analyse verschiedenster Proben.

  • 15.02.2017  Analytical Services

    Analytical Services

    Umfangreiche Dienstleistungen für modernste Mikroskopie-, Analyse- und Präparationsverfahren mit einem der modernsten Labore.

  • 17.11.2016  Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Adams et al. zeigen in dieser aufregenden Studie, dass man mittels lokaler Anreicherung von Lanthaniden mehrfarbige Elektronenmikroskopie (multicolor electron microscopy) betreiben kann.

  • 28.10.2016  JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    Das neue JSM-IT300HR wurde speziell für den Einsatz in einer Multi-User-Umgebungen konzipiert und kombiniert höchste Performance mit herausragender Benutzerfreundlichkeit.

  • 15.02.2016  JEOL JEM-F200

    JEOL JEM-F200

    Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit zahlreichen neuen Funktionen.

  • 11.01.2016  JEOL JPS-9030

    JEOL JPS-9030

    Photoelektronen-Spektrometer mit modernem und ansprechenden Design sowie neu entwickelter Bedienungssoftware.

  • 10.12.2015  Servicepakete nach Maß

    Servicepakete nach Maß

    Maximale Performance für einen reibungslosen Betrieb.

  • 16.11.2015  JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs.

  • 14.11.2015  Proteinforschung in Halle: Biochemiker nehmen modernes Elektronenmikroskop in Betrieb

    Proteinforschung in Halle: Biochemiker nehmen modernes Elektronenmikroskop in Betrieb

    Einmalige Technik am Weinberg-Campus: Ein neues Kryo-Elektronenmikroskop wurde vor kurzem von Wissenschaftlern der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg (MLU) im Biozentrum eingeweiht.

  • 03.11.2015  JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung

    JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung

    Das FEG-REM JSM-7200F deckt einen möglichst breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht dabei den einfachen Einstieg in die Welt der Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.

  • 03.11.2015  JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    Das neue Benchtop-REM JCM-6000Plus Neoscope™ - Ausgestattet mit einem hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor für die effiziente Materialanalytik.

  • 02.11.2015  JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEM-2100Plus ist ein Allround-Transmissionselektronenmikroskop, das eine stabile und leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint.

  • 10.09.2015  Das neue Seminar- und Schulungsprogramm 2015/2016

    Das neue Seminar- und Schulungsprogramm 2015/2016! Buchen Sie jetzt Ihren Wissensvorsprung für die Zukunft!

    Die informativen und kompetenten Weiterbildungsangebote der JEOL (Germany) GmbH lassen keine Wünsche offen, wenn es um die Entfaltung ungeahnter Möglichkeiten geht. Qualifizierung ist Ihr Schlüssel zum Erfolg – maßgeschneidert und individuell!

  • 09.08.2015  JEOL auf der MC 2015 in Göttingen

    JEOL auf der MC 2015 in Göttingen

    Auch in diesem Jahr bietet JEOL den Besuchern ein umfangreiches Messeprogramm während der MC 2015.

  • 15.07.2015  Neuer Webauftritt mit zahlreichen zusätzlichen Features

    Neuer Webauftritt mit zahlreichen zusätzlichen Features

    Die JEOL (Germany) GmbH hat ihren Internetauftritt neu gestaltet und um zahlreiche zusätzliche Features erweitert. Mit einem zeitgemäßen Design und der Verwendung aktueller Web-Technologien ist die neue Webseite die zentrale Anlaufstelle zur einfachen und schnellen Kontaktaufnahme. Optisch besticht der neue Webauftritt mit neuen frischen Motiven. Durch den Einsatz großflächiger Bilder und einem aufgeräumten Design werden technische Inhalte mit einer frischen Ästhetik vereint.

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JEM-1010
Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.
JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    02.07. - 06.07.2017 Polen
    Hotel Marriott, Warschau

  • 1st EUFN Workshop

    04.07. - 05.07.2017 Österreich
    Universität Graz, Graz

  • MC 2017

    21.08. - 25.08.2017 Schweiz
    SwissTech Convention Center, Lausanne

  • Metallographie-Tagung

    13.09. - 15.09.2017 Deutschland
    Hochschule Aalen, Aalen

 
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