JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - Aktuelles
 
 
60 Years NMR + 50 Years SEM

Aktuelles

  • 15.02.2017  Analytical Services

    Analytical Services

    Umfangreiche Dienstleistungen für modernste Mikroskopie-, Analyse- und Präparationsverfahren mit einem der modernsten Labore.

  • 17.11.2016  Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Adams et al. zeigen in dieser aufregenden Studie, dass man mittels lokaler Anreicherung von Lanthaniden mehrfarbige Elektronenmikroskopie (multicolor electron microscopy) betreiben kann.

  • 28.10.2016  JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    Das neue JSM-IT300HR wurde speziell für den Einsatz in einer Multi-User-Umgebungen konzipiert und kombiniert höchste Performance mit herausragender Benutzerfreundlichkeit.

  • 15.02.2016  JEOL JEM-F200

    JEOL JEM-F200

    Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit zahlreichen neuen Funktionen.

  • 11.01.2016  JEOL JPS-9030

    JEOL JPS-9030

    Photoelektronen-Spektrometer mit modernem und ansprechenden Design sowie neu entwickelter Bedienungssoftware.

  • 10.12.2015  Servicepakete nach Maß

    Servicepakete nach Maß

    Maximale Performance für einen reibungslosen Betrieb.

  • 16.11.2015  JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs.

  • 14.11.2015  Proteinforschung in Halle: Biochemiker nehmen modernes Elektronenmikroskop in Betrieb

    Proteinforschung in Halle: Biochemiker nehmen modernes Elektronenmikroskop in Betrieb

    Einmalige Technik am Weinberg-Campus: Ein neues Kryo-Elektronenmikroskop wurde vor kurzem von Wissenschaftlern der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg (MLU) im Biozentrum eingeweiht.

  • 03.11.2015  JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung

    JEOL JSM-7200F – Allround-FEG-REM mit hoher Auflösung und intuitiver Bedienung

    Das FEG-REM JSM-7200F deckt einen möglichst breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht dabei den einfachen Einstieg in die Welt der Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.

  • 03.11.2015  JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    Das neue Benchtop-REM JCM-6000Plus Neoscope™ - Ausgestattet mit einem hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor für die effiziente Materialanalytik.

  • 02.11.2015  JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop

    Das JEM-2100Plus ist ein Allround-Transmissionselektronenmikroskop, das eine stabile und leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint.

  • 10.09.2015  Das neue Seminar- und Schulungsprogramm 2015/2016

    Das neue Seminar- und Schulungsprogramm 2015/2016! Buchen Sie jetzt Ihren Wissensvorsprung für die Zukunft!

    Die informativen und kompetenten Weiterbildungsangebote der JEOL (Germany) GmbH lassen keine Wünsche offen, wenn es um die Entfaltung ungeahnter Möglichkeiten geht. Qualifizierung ist Ihr Schlüssel zum Erfolg – maßgeschneidert und individuell!

  • 09.08.2015  JEOL auf der MC 2015 in Göttingen

    JEOL auf der MC 2015 in Göttingen

    Auch in diesem Jahr bietet JEOL den Besuchern ein umfangreiches Messeprogramm während der MC 2015.

  • 15.07.2015  Neuer Webauftritt mit zahlreichen zusätzlichen Features

    Neuer Webauftritt mit zahlreichen zusätzlichen Features

    Die JEOL (Germany) GmbH hat ihren Internetauftritt neu gestaltet und um zahlreiche zusätzliche Features erweitert. Mit einem zeitgemäßen Design und der Verwendung aktueller Web-Technologien ist die neue Webseite die zentrale Anlaufstelle zur einfachen und schnellen Kontaktaufnahme. Optisch besticht der neue Webauftritt mit neuen frischen Motiven. Durch den Einsatz großflächiger Bilder und einem aufgeräumten Design werden technische Inhalte mit einer frischen Ästhetik vereint.

  • 11.05.2015  Neues Mehrstrahlsystem (FIB = Focused Ion Beam) JIB-4610F ‐ Hoher Durchsatz zur Bearbeitung großer Flächen mit großen Stromstärken

    Neues Mehrstrahlsystem (FIB = Focused Ion Beam) JIB-4610F ‐ Hoher Durchsatz zur Bearbeitung großer Flächen mit großen Stromstärken

    Hohe Auflösung und Präzision sind heute notwendige Kriterien für Bewertungsverfahren, einschließlich Kristallanalysen, Element-Abbildungen und morphologischen Betrachtungen bei zunehmend komplexen Verfahren und struktureller Miniaturisierung hochentwickelter Materialien. Das JIB-4610F ist ein Mehrstrahlsystem für Bearbeitungs- und bildgebende Verfahren, das diese Anforderungen in einem einzigen Tool erfüllt.

  • 08.01.2015  Sonderkonditionen für neue ECZ-S und ECZ-R-NMR-Serie

    Sonderkonditionen für neue ECZ-S und ECZ-R-NMR-Serie

    Seit mehr als 50 Jahren ist JEOL für seine breite Palette an NMR-Lösungen, zugeschnitten auf die Anforderungen von Wissenschaft, Industrie und öffentlichen Einrichtungen, bekannt; von Routineanalytik bis hin zur Spitzenforschung.

  • 03.12.2014  JEOL JSM-7800F PRIME - Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)

    JEOL JSM-7800F PRIME - Hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM)

    Branchenführendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop für alle Proben- und Analysetypen. Das JSM-7800F PRIME setzt mit seiner herausragend hohen Auflösung und Stabilität neue Standards für Abbildungen und Analyseverfahren im Bereich der Rasterelektronenmikroskopie.

  • 07.10.2014  JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

    JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

    Das SXES ist ein leistungsstarkes Spektrometer mit hoher Energieauflösung zur Analyse leichter Elemente. Es ist als Teil eines integrierten Analysesystems zur Verwendung mit der Mikrosonde oder zur Nutzung als eigenständiger Detektor vorgesehen.

  • 01.10.2014  JEOL JEM-ARM300F – neues ultrahochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop

    JEOL JEM-ARM300F – neues ultrahochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop

    Das neue ultrahochauflösende Transmissionselektronenmikroskop JEOL JEM-ARM300F ist die Weiterentwicklung des bewährten JEOL JEM-ARM200F.

  • 25.09.2014  Cross Section Polisher IB-19500CP & IB-195010CP

    Cross Section Polisher IB-19500CP & IB-195010CP

    Der JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP bzw. IB-19510CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.

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85356 Freising

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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  • ASEM Workshop

    20.04. - 21.04.2017 Österreich
    Wien

  • EMAS 2017

    07.05. - 11.05.2017 Deutschland
    Konzilgebäude Konstanz, Konstanz

  • CONTROL 2017

    09.05. - 12.05.2017 Deutschland
    Messe Stuttgart, Stuttgart

  • SCANDEM 2017

    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

 
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