JEOL - Aktuelles
 
 
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Aktuelles

  • 27.09.2017  JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™ - hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik.

  • 07.09.2017  Rückblick MC 2017, Lausanne

    Rückblick MC 2017, Lausanne

    Die MC 2017 in Lausanne ist zu Ende - doch was bleibt ist Jazz und eine Welt neuer JEOL Systeme.

  • 31.07.2017  JEOL JBX-8100FS

    JEOL JBX-8100FS

    Innovatives Lithographiesystem in einem modularen Design.

  • 30.07.2017  JEOL JSM-7900F

    JEOL JSM-7900F

    Höchstauflösung im elektronenmikroskopischen Bild kombiniert mit einzigartigen Analysemöglichkeiten.

  • 05.07.2017  JEOL JEM-1400Flash

    JEOL JEM-1400Flash

    Vielseitiges 120 kV TEM.

  • 04.07.2017  JEOL JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Kryo Feld-Emissions Mikroskop

    JEOL JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Kryo Feld-Emissions Mikroskop

    CRYO ARM™ 300 - ein ultrahochauflösendes 300 kV Kryo-Elektronenmikroskop.

  • 04.07.2017  JEOL JEM-ARM200F NEOARM

    JEOL JEM-ARM200F NEOARM

    Analytisches Transmissionselektronenmikroskop.

  • 19.06.2017  JEOL JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) Kryo Feld-Emissions Mikroskop

    JEOL JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) Kryo Feld-Emissions Mikroskop

    CRYO ARM™ 200 - ein ultrahochauflösendes Kryo-Elektronenmikroskop.

  • 19.06.2017  JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

    JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

    JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher - Präparationswerkzeug zur Herstellung von hochpräzisen Querschliffen.

  • 26.04.2017  JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    Die JEOL Mikrosonde JXA-8530FPlus ist bereits die dritte Generation der erfolgreichen Elektronenstrahl-Mikrosonden-Serie mit patentierter In-Lens- Feldemissionsquelle.

  • 26.04.2017  JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    Das JSM-IT500 ist die neueste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung.

  • 26.04.2017  JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA ist ein „Time-of-Flight“ Massenspektrometer, welches durch die revolutionäre „Multi-turn“-Technologie kombiniert mit perfekter Fokussierung höchste Auflösung in einem äußerst kompakten Design erreicht.

  • 26.04.2017  JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    Das neue Mehrstrahlsystem JEOL JIB-4700F ist eine ideale Plattform für sämtliche Fragestellungen von der morphologischen, chemischen bis hin zur kristallographischen Analyse verschiedenster Proben.

  • 15.02.2017  Analytical Services

    Analytical Services

    Umfangreiche Dienstleistungen für modernste Mikroskopie-, Analyse- und Präparationsverfahren mit einem der modernsten Labore.

  • 17.11.2016  Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Adams et al. zeigen in dieser aufregenden Studie, dass man mittels lokaler Anreicherung von Lanthaniden mehrfarbige Elektronenmikroskopie (multicolor electron microscopy) betreiben kann.

  • 28.10.2016  JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    JEOL JSM-IT300HR InTouchScope™

    Das neue JSM-IT300HR wurde speziell für den Einsatz in einer Multi-User-Umgebungen konzipiert und kombiniert höchste Performance mit herausragender Benutzerfreundlichkeit.

  • 15.02.2016  JEOL JEM-F200

    JEOL JEM-F200

    Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit zahlreichen neuen Funktionen.

  • 11.01.2016  JEOL JPS-9030

    JEOL JPS-9030

    Photoelektronen-Spektrometer mit modernem und ansprechenden Design sowie neu entwickelter Bedienungssoftware.

  • 10.12.2015  Servicepakete nach Maß

    Servicepakete nach Maß

    Maximale Performance für einen reibungslosen Betrieb.

  • 16.11.2015  JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs.

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JEM-1010
Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.
JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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