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Aktuelle News
Weitere aktuelle Informationen erhalten Sie in der Rubrik Aktuelles
09.07.2011 JEOL Q-SEM Series – Analytische Rasterelektronenmikroskope
Die Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskope der Q-SEM Series zeichnen sich durch hohe Leistungsfähigkeit und leichte Bedienbarkeit aus. Sie wurden entwickelt, um den hohen Ansprüchen der Qualitätssicherung sowohl im akademischen als auch im industriellen Bereich gerecht zu werden. Innerhalb weniger Minuten lassen sich detaillierte Oberflächenabbildungen und ortsaufgelöste Elementanalysen erstellen sowie 3D-Rekonstruktionen des Werkstücks anfertigen.
08.07.2011 JEOL Spiral-TOF: Patentierte Ionenoptik mit weltweit höchster Massenauflösung
JEOL stellt mit dem neuen Spiral-TOF ein MALDI-TOF Massenspektrometer vor, das sich durch einen extrem langen spiralförmigen Flugweg der beschleunigten Ionen auszeichnet.
02.07.2011 JEOL MICCS-NMR: In situ Echtzeit-Messung chemischer Reaktionen im NMR Spektrometer
MICCS steht für: Micro Channeled Cell for Synthesis monitoring. In der NMR-Mikroflusszelle können bis zu drei verschiedene Substanzen perfekt vermischt und das Reaktionsgemisch direkt im NMR Magneten analysiert werden.
Messetermine
Scandem
12.06. - 15.06.2012 in Bergen, Norway63rd annual meeting of SCANDEM, the Nordic microscopy society
Euromar 2012
01.07. - 05.07.2012 in Dublin, IrelandAnnual international conference on Magnetic Resonance
Ultrapath XVI
06.08. - 10.08.2012 in Regensburg, GermanyConference on Diagnostic Microscopy Basic Research & Oncology, located at the University Medical Center in Regensburg, Germany
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