JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - Ausrüstungssysteme für die Halbleiterindustrie und -forschung

Ausrüstungssysteme für die
Halbleiterindustrie und -forschung

Bereits seit über 40 Jahren liefert JEOL für die Halbleiterindustrie hochwertige Elektronen- und Ionenstrahloptik für die Strukturierung und Inspektion der Bauteile. Die neueste Gerätegeneration bietet eine Leistungsfähigkeit, mit der Sie die kommenden Entwicklungszyklen bis in den 22nm Bereich hinein abdecken können.

JEOL produziert für die moderne Halbleiterforschung und -Produktion sowohl Front-End, als auch Back-End Instrumente. Von Elektronenstrahl-Lithographiesystemen und Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopen für das hochpräzise Schreiben von Masken, auf Wafern und auf anderen Substraten, FIB/SEM-Lösungen für hohen Durchsatz und cross-section Abbildung, bis hin zu Geräten für die schnelle Fehlerinspektion – JEOL Halbleitersysteme werden den immer anspruchsvolleren Bedürfnissen von Produktion und Forschung gerecht.

Diese Systeme werden durch einen hochwertigen und zuverlässigen 24 Stunden/ 7 Tage - Service unterstützt.


Ausrüstungssysteme für die Halbleiterindustrie und -forschung




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Gute Änger 30
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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    30.04. - 04.05.2017 Niederlande
    Kasteel Vaalsbroek, Vaalsbroek

  • EMAS 2017

    07.05. - 11.05.2017 Deutschland
    Konzilgebäude Konstanz, Konstanz

  • CONTROL 2017

    09.05. - 12.05.2017 Deutschland
    Messe Stuttgart, Stuttgart

  • SCANDEM 2017

    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

 
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