JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - Elektronenstrahl-Mikrosonden

Elektronenstrahl-Mikro­sonden

Elektronenstrahlmikrosonden bieten eine hochempfindliche, ortsaufgelöste (Spuren-) Elementanalytik durch die Kombination von hochauflösender Elektronenoptik und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie. JEOL hat im Jahr 1960 die erste Elektronenstrahl-Mikrosonde auf den Markt gebracht und seitdem mit bisher acht kontinuierlich weiterentwickelten Gerätegenerationen weitreichende Erfahrung auf dem Gebiet der Röntgenmikroanalyse gesammelt.

JEOL Elektronenstrahl-Mikrosonden sind gekennzeichnet durch eine hochstabile Elektronenoptik in Verbindung mit wellenlängendispersiven Kristallspektrometern (WDS) zur Röntgenmikroanalyse von festen Proben aller Art. Der Bereich der analysierbaren Elemente reicht dabei von Beryllium bis Uran.

Durch die Entwicklung der Computertechnologie und deren konsequente Integration in der Mikroanalyse, sind aufwändige Analyseverfahren mit wenig personellem Aufwand möglich.
Mit der Entwicklung neuer Kristalle für die wellenlängendispersiven Spektrometer ist auch die Analyse leichter Elemente mit den JEOL Elektronenstrahlmikrosonden sehr präzise möglich.

 
 

Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL JXA-8230 Superprobe Elektronenstrahl-Mikrosonde

    JEOL JXA-8230 Superprobe Elektronenstrahl-Mikrosonde

    Basierend auf langjähriger Erfahrung und dem kontinuierlichen Informationsaustausch mit den Anwendern hat JEOL mit der Superprobe JXA-8230 ein System entwickelt, das für die unterschiedlichsten Anwendungen in Analytik und Abbildung optimale Ergebnisse liefert. Das System verfügt über ein integriertes JEOL EDX-System, welches kombinierte EDX/WDX-Analysen auf sehr einfache Weise gestattet.

  • JEOL JXA-8530F Hyperprobe Elektronenstrahl-Mikrosonde

    JEOL JXA-8530F Hyperprobe Elektronenstrahl-Mikrosonde

    Die Hyperprobe JXA-8530F ist bereits die zweite Generation von JEOL Elektronenstrahl-Mikrosonden, die dank einer Schottky Feldemissionsquelle zur Erweiterung der Anwendungsbereiche für die Mikroanalyse beiträgt. Für die JXA-8530F wurden die Elektronenoptik und das Vakuumsystem dabei grundlegend geändert und verbessert.

 
 

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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