JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL Focused-Ion-Beam-Systeme (FIB)

JEOL Focused-Ion-Beam-Systeme (FIB)

Basierend auf den bewährten JEOL Elektronen- und Ionenoptischen Geräten hat JEOL FIB-Systeme entwickelt, mit denen schnell und präzise Querschnittsproben für TEM- und REM-Anwendungen hergestellt werden können.

Das JEOL FIB-Produktspektrum umfasst sowohl Systeme, die über eine Ionenquelle für Präparation und Abbildung verfügen, als auch Zwei-Strahlgeräte, die die Kombination einer Elektronensäule mit einer FIB-Quelle ermöglichen. Zusätzlich bietet JEOL integrierte, überaus leistungsfähige Softwarepakete zur automatisierten FIB-Präparation sowie zur FIB-Tomographie.

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Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL JIB-4000 (Single Beam FIB-System)

    JEOL JIB-4000 (Single Beam FIB-System)

    Das JIB-4000 Focused Ion Beam System ist ein modernes, hochauflösendes, digitales Focused-Ion-Beam System mit neuentwickelter Ionenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI). Mit der JIB-4000 können Dünnschichtschnitte für STEM/TEM- sowie Probenquerschnitte für REM-Untersuchungen aus den unterschiedlichsten Materialien hergestellt werden, die sonst nur schwierig oder unmöglich zu präparieren wären.

  • JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    Das neue Mehrstrahlsystem JEOL JIB-4700F ist eine ideale Plattform für sämtliche Fragestellungen von der morphologischen, chemischen bis hin zur kristallographischen Analyse verschiedenster Proben.

 
 

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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85356 Freising

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

  • Finnish NMR Symposium

    07.06. - 09.06.2017 Finnland
    Ruissalo Spa, Turku

  • ISPAC 2017

    11.06. - 14.06.2017 Österreich
    Johannes Kepler Universität, Linz

  • EUROMAR 2017

    02.07. - 06.07.2017 Polen
    Hotel Marriott, Warschau

 
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