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JEOL Focused-Ion-Beam-Systeme (FIB)

JEOL Focused-Ion-Beam-Systeme (FIB)

Basierend auf den bewährten JEOL Elektronen- und Ionenoptischen Geräten hat JEOL FIB-Systeme entwickelt, mit denen schnell und präzise Querschnittsproben für TEM- und REM-Anwendungen hergestellt werden können.

Das JEOL FIB-Produktspektrum umfasst sowohl Systeme, die über eine Ionenquelle für Präparation und Abbildung verfügen, als auch Zwei-Strahlgeräte, die die Kombination einer Elektronensäule mit einer FIB-Quelle ermöglichen. Zusätzlich bietet JEOL integrierte, überaus leistungsfähige Softwarepakete zur automatisierten FIB-Präparation sowie zur FIB-Tomographie.

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Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL JIB-4000 (Single Beam FIB-System)

    JEOL JIB-4000 (Single Beam FIB-System)

    Das JIB-4000 Focused Ion Beam System ist ein modernes, hochauflösendes, digitales Focused-Ion-Beam System mit neuentwickelter Ionenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI). Mit der JIB-4000 können Dünnschichtschnitte für STEM/TEM- sowie Probenquerschnitte für REM-Untersuchungen aus den unterschiedlichsten Materialien hergestellt werden, die sonst nur schwierig oder unmöglich zu präparieren wären.

  • JEOL JIB-4610F

    JEOL JIB-4610F

    Das JIB-4610F Focused Ion Beam System ist ein modernes, hochauflösendes, digitales Mehrstrahl Focused-Ion-Beam System mit neuentwickelter Ionenoptik, hochauflösender Elektronenoptik und intuitiver, graphischer Benutzeroberfläche (GUI).

 
 

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    07.05. - 11.05.2017 Deutschland
    Konzilgebäude Konstanz, Konstanz

  • CONTROL 2017

    09.05. - 12.05.2017 Deutschland
    Messe Stuttgart, Stuttgart

  • SCANDEM 2017

    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

 
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