JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - Präparationssysteme

JEOL Präparations­systeme

Für die schnelle und genaue Präparation von Querschnitts- und (S)TEM-Proben unterschiedlichster Größe und Materialien bietet JEOL Ihnen die passenden Geräte.

 
 

Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP

    JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP

    Der JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen. Weiche und harte Materialien sowie auch Verbundwerkstoffe können mit einem Minimum an Probenschädigung d.h. ohne Verformen und Verschmieren artefaktfrei präpariert werden.

  • JEOL Cross Section Polisher IB-19510CP

    JEOL Cross Section Polisher IB-19510CP

    Der JEOL Cross Section Polisher IB-19510CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen. Weiche und harte Materialien sowie auch Verbundwerkstoffe können mit einem Minimum an Probenschädigung d.h. ohne Verformen und Verschmieren artefaktfrei präpariert werden. Dabei erlaubt eine CCD-Kamera die In-situ-Beobachtung des Präparationsprozesses.

  • JEOL Ion Slicer

    JEOL Ion Slicer

    Der Ion Slicer EM-09100IS ist ein innovatives Produkt zur Probenpräparation für TEM und STEM, aber auch für REM und Auger. Das System erlaubt die schnelle und einfache Präparation von (S)TEM-Proben auch heterogener Materialien mittels Ar-Ionenstrahl.

 
 

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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Gute Änger 30
85356 Freising

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

  • Finnish NMR Symposium

    07.06. - 09.06.2017 Finnland
    Ruissalo Spa, Turku

  • ISPAC 2017

    11.06. - 14.06.2017 Österreich
    Johannes Kepler Universität, Linz

  • EUROMAR 2017

    02.07. - 06.07.2017 Polen
    Hotel Marriott, Warschau

 
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