JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

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JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

In 2003 stellte JEOL den ersten Cross-Section-Polisher (CP), ein Präparationswerkzeug zur Herstellung von hochpräzisen Querschliffen, vor. Das einfache, schnelle und reproduzierbare Herstellen von Querschliffen komplexester Materialkombinationen machten den CP schnell zu dem Standardinstrument im Bereich der ionenbasierten Probenpräparationsverfahren.

Mit der neuen Version des Cross Section Polishers IB-19530CP knüpft JEOL an diese erfolgreiche Tradition an und setzt erneut den Standard.

Durch eine verbesserte Ionenquelle können Querschliffen noch schonender und artefaktfreier hergestellt werden, was dem CP, insbesondere für empfindliche Proben, erhebliche Vorteile gegenüber anderen Präparationsverfahren verschafft. Ein optimiertes Blendendesign reduziert die Präparationskosten um bis zu 50% bei gleichzeitiger Verlängerung der Lebensdauer. Zur Verbesserung der Bedienbarkeit und Erweiterung des Funktionsumfangs wurde das Halterkonzept sowie die Probenbühne vollständig überarbeitet. Während der Einbau von Proben deutlich vereinfacht wurde ermöglicht die neue Multifunktionsbühne nun sowohl das Erstellen von traditionellen Querschliffen als auch das Verfeinern der Oberflächengüte von eingebetteten Proben für höchst-auflösende Untersuchungen im Rasterelektronenmikroskop sowie für analytische Anwendungen wie EDX, WDX und EBSD. Darüber hinaus ermöglicht der IB-19530CP eine kontrollierte Tiefenprofilierung sowie das direkte Beschichten von nichtleitenden Proben.

Merkmale

  1. Hoher Durchsatz
    Die Hochgeschwindigkeits-Ionenquelle und die Auto-Start-Funktion ermöglicht schnelles und autonomes Polieren selbst stark heterogener Proben.

  2. Automatische Bearbeitungsprogramme:
    High-Speed-Milling und Finishing
    Zur Erzeugung hochwertige Querschnitte in kürzester Zeit
    Intermitted-Milling
    Zur artefakfreien Präparation von sensitiven und temperaturempfindlichen Proben

  3. Einfacher Probeneinbau:
    Vereinfachter Einbau der Probe durch das innovative Halterkonzept

  4. Multifunktionsbühne zur Erstellung von:
    Querschliffen
    Oberflächenpolitur eingebetteter Proben
    Tiefenprofilierung
    Sputter-Coating

  5. Hochleistungsblende
    Längere Lebensdauer bei geringeren Kosten

Spezifikationen

Ionen­beschleunigungs­spannung

2~8kV

Ionen­strahl­durchmesser

500μm/h

Max. Probengröße

11mm (B) x 10mm (T) x 2mm (H)

Probenrotation*

Automatische Probenrotation um ± 30° bzw. 360°

Auto-Start

Automatisierter Programmstart

Intermittent-Mode

Regelung der Probentemperatur durch gepulste Ionenexposition

Finishing-Mode

Automatisch startende Feinpolitur

* Umfang der Probenrotation ist abhängig vom gewählten Halter

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

 

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