JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
JEOL - Rasterelektronenmikroskope mit Wolfram-oder LaB6-Kathode

Raster­elektronen­mikroskope
mit Wolfram- oder LaB6-Kathode

JEOL Rasterelektronenmikroskope mit Wolfram-oder LaB6-Kathode zeichnen sich durch eine hohe elektronenoptische Leistung verbunden mit sehr kompakten Außenmaßen und einer einfachen Bedienung aus.

Die verfügbaren Modelle unterscheiden sich vor allem in der maximalen Probengröße sowie in der Ausstattung mit oder ohne integriertem EDX-System.

 
 

Modelle:

Für weiterführende Produktinformationen wählen Sie bitte aus nachfolgender Auflistung das gewünschte Modell.

  • JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

    Das neue Benchtop-REM JCM-6000Plus Neoscope™ - Ausgestattet mit einem hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor für die effiziente Materialanalytik.

  • JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

    Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs. Das JEOL JSM-IT100 ist die neueste Entwicklung in der preisgekrönten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Das IT100 setzt die seit 50 Jahren bestehende technologische Führungsrolle von JEOL auf dem REM-Markt fort und stellt dabei ein einfach zu bedienendes vielseitig einsetzbares Forschungs-REM in ergonomischer Kompaktausführung dar.

  • JEOL JSM-IT300

    JEOL JSM-IT300

    Das JEOL JSM-IT300 ist die neueste Innovation in der beliebten Wolfram / LaB6 Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Dieses hochleistungsfähige und vielseitige Rasterelektronenmikroskop kann für die verschiedensten Anwendungen genutzt werden.

 
 

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    30.04. - 04.05.2017 Niederlande
    Kasteel Vaalsbroek, Vaalsbroek

  • EMAS 2017

    07.05. - 11.05.2017 Deutschland
    Konzilgebäude Konstanz, Konstanz

  • CONTROL 2017

    09.05. - 12.05.2017 Deutschland
    Messe Stuttgart, Stuttgart

  • SCANDEM 2017

    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

 
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