Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Nachfolgend aufgeführt finden Sie eine Auswahl von JEOL Vorführ- und Gebrauchtgeräten.
Bei Fragen zu den einzelnen Geräten sowie deren Preisen stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung

JIB-4700F

JEOL Mehrstrahl-System aus unserem Applikationslabor.

Mehr Informationen zu diesem Produkt

Merkmale

Höchstauflösende Abbildung
Kurze Analysezeit
Schneller Probenabtrag
Flexibles Detektionssystem
Vielseitige Einsetzbarkeit
3D-Abbildung und -Analytik
Kompatible Transferlösungen
Korrelative Mikroskopie

IB-19530CP

Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
JEOL Cross Section-Polisher IB-19530CP aus unserem Applikationslabor.

Mehr Informationen zu diesem Produkt

Merkmale

Hoher Durchsatz durch Hochgeschwindigkeits-Ionenquelle und Auto-Start-Funktion
Automatische Bearbeitungsprogramme: High-Speed-Milling und Finishing, Intermitted-Milling
Einfacher Probeneinbau durch innovatives Halterkonzept
Multifunktionsbühne zur Erstellung von Querschliffen, Oberflächenpolitur eingebetteter Proben, Tiefenprofilierung, Sputter-Coating
langlebige Hochleistungsblende

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
Übermitteln Sie uns Ihre Anliegen mit dem nachfolgend aufgeführten Kontaktformular (* = Pflichtfeld).

Kontaktart(en) wählen*

Kontaktart*

Telefon E-Mail Post

Ihre Kontaktdaten*

Anrede

Herr Frau

Titel

Vorname*

Nachname*

Firma / Universität / Akademie*

Straße*

PLZ*

Ort*

Land*

Telefon

E-Mail*

Neuigkeiten von JEOL

Einwilligungserklärung

Ich erkläre mich damit einverstanden, zu den nachfolgend aufgeführten Interessensbereichen bis auf Widerruf Informationen zu erhalten.

Interessensbereich

Rasterelektronenmikroskope (REM) Focused Ion Beam Systeme (FIB) Transmissionselektronenmikroskope (TEM) Präparationssysteme (REM/TEM) Elektronenstrahlmikrosonden Augerspektroskopie Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS/ESCA)

Elektronenstrahllithographie Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) NMR Spektrometer Massenspektrometrie Analytical Service Veranstaltungen / Schulungen Sonstiges

Ihre Nachricht an JEOL

Mitteilung

Datenschutzbestimmungen*

Es gelten die Datenschutzbestimmungen, die ich hiermit akzeptiere.

Zurück zur vorherigen Seite