Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Nachfolgend aufgeführt finden Sie eine Auswahl von JEOL Vorführ- und Gebrauchtgeräten.
Bei Fragen zu den einzelnen Geräten sowie deren Preisen stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung

JSM-IT200 InTouchScope™

Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs. Neuwertiges System aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

Das InTouchScope JSM-IT200 zeichnet sich durch alle Funktionen eines voll ausgestatteten Rasterelektronenmikroskops mit Wolframkathode und integrierter EDS-Analyse in kompaktem, ergonomischem und intuitivem Design aus. Die Installation ist denkbar einfach, da weder Kühlwasser- noch Gasanschluss nötig sind.

Praktische Funktionen für Benutzer aller Erfahrungs-Levels:

  • Höchste Bildauflösung im HV/LV/SE/BSE-Modus
  • Zeromag-Modus für den intuitiven Übergang zwischen lichtoptischem und REM-Bild
  • Chemische Analytik durch optionales, integriertes EDS mit live-Analyse
  • Multi-Touch Benutzeroberfläche und Remote Control
  • Zahlreiche Automatik-Funktionen und vorgefertigte Rezepte für unterschiedliche Probentypen
  • Mehrkanal-Live-Bild und Videoaufnahme gleichzeitig möglich
  • Schnelle Probennavigation bei 5x – 300.000x Vergrößerung
  • Smile View Premium Offline-Software mit Bildschärfung, Bildmontage, Positionsausrichtung und Überlagerung
  • Kompakte Stellfläche: ca. 0,5m²
JEOL JSM-IT200 InTouchScope™

JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop

Intuitiv bedienbares Rasterelektronenmikroskop mit vollständig Hard- und Software-integriertem EDX-System und Niedervakuummodus, das es zum idealen Allrounder auch für nicht-leitfähige Proben macht. Neuwertiges System aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

  • „Live 3D“: REM-Bild und rekonstruiertes 3D-Oberflächenbild in Echtzeit. Diese neue Funktion ermöglicht es, topografische Informationen und Tiefeninformationen von Proben zusammen mit REM-Bildinformationen der Probenoberflächen zu erfassen.
  • Vollwertige Elektronenoptik: Vergrößerung bis x100.000 und einfacher Kathodenaustausch durch vorzentrierte Wolfram-Filamente.
  • Die automatische Einstellung der Betriebsparameter basierend auf Probentyp und Fragestellung bietet hochwertige Ergebnisse und verbessert die Produktivität.
  • JEOL ZeroMag-Funktion: Stufenloser Übergang zwischen licht- und elektronenoptischer Abbildung für einfachste Probennavigation.
  • Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten.
  • Voll-automatisierte Aufnahmen von REM-Abbildungen und Elementverteilungsbildern für hochaufgelöste Übersichtsmontagen.
  • Für die Untersuchung nichtleitender Materialien steht ein auf Knopfdruck zuschaltbares Niedervakuumsystem zur Verfügung.
  • Große Kammer für Proben bis 80 mm Durchmesser und 50 mm Höhe.
  • Einfache Installation – Eine Steckdose reicht für den Betrieb vollkommen aus!
  • Kompakte Bauform für den mobilen REM-Einsatz.
JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop

IB-19530CP

Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
JEOL Cross Section-Polisher IB-19530CP aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

  • Hoher Durchsatz durch Hochgeschwindigkeits-Ionenquelle und Auto-Start-Funktion
  • Automatische Bearbeitungsprogramme: High-Speed-Milling und Finishing, Intermitted-Milling
  • Einfacher Probeneinbau durch innovatives Halterkonzept
  • Multifunktionsbühne zur Erstellung von Querschliffen, Oberflächenpolitur eingebetteter Proben, Tiefenprofilierung, Sputter-Coating
  • langlebige Hochleistungsblende
JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
Übermitteln Sie uns Ihre Anliegen mit dem nachfolgend aufgeführten Kontaktformular (* = Pflichtfeld).

Kontaktart(en) wählen*

Ihre Kontaktdaten*



Neuigkeiten von JEOL


Ihre Nachricht an JEOL

Weitergabe Ihrer Nutzerdaten an Dritte

Diese Seite verwendet Dienste, die personenbezogene Daten erheben, damit Funktionen für soziale Medien angeboten und Webseitenzugriffe analysiert werden können. Es handelt sich um Google Maps (zur Anzeige unseres Standorts) und Google Analytics (zur lokalen Webseitenanalyse). Diese Dienste führen die Daten ggf. mit weiteren Daten zusammen. Weitere Informationen zu den von uns verwendeten Diensten und zum Widerruf finden Sie in unseren Datenschutzbestimmungen.
Ihre Einwilligung dazu ist freiwillig, für die Nutzung der Webseite nicht notwendig und kann jederzeit mit Wirkung für die Zukunft widerrufen werden.
Sie können die Erhebung und Verarbeitung der folgenden, von dieser Webseite genutzten Dienste ablehnen oder sie akzeptieren.

Die Hinweise zum Datenschutz habe ich gelesen und verstanden. Ich bin mit der Übertragung und Speicherung meiner Daten im Rahmen der Datenschutzerklärung einverstanden. Ich weiß, ich habe das Recht, diese Einwilligung jederzeit ohne Angabe von Gründen zu widerrufen ohne dass die Rechtmäßigkeit, der aufgrund meiner Einwilligung bis zum Widerruf erfolgten Verarbeitung davon berührt wird.