Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Nachfolgend aufgeführt finden Sie eine Auswahl von JEOL Vorführ- und Gebrauchtgeräten.
Bei Fragen zu den einzelnen Geräten sowie deren Preisen stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung

JIB-4700F

JEOL Mehrstrahl-System aus unserem Applikationslabor.

Mehr Informationen zu diesem Produkt

Merkmale

Höchstauflösende Abbildung
Kurze Analysezeit
Schneller Probenabtrag
Flexibles Detektionssystem
Vielseitige Einsetzbarkeit
3D-Abbildung und -Analytik
Kompatible Transferlösungen
Korrelative Mikroskopie

IB-19530CP

Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
JEOL Cross Section-Polisher IB-19530CP aus unserem Applikationslabor.

Mehr Informationen zu diesem Produkt

Merkmale

Hoher Durchsatz durch Hochgeschwindigkeits-Ionenquelle und Auto-Start-Funktion
Automatische Bearbeitungsprogramme: High-Speed-Milling und Finishing, Intermitted-Milling
Einfacher Probeneinbau durch innovatives Halterkonzept
Multifunktionsbühne zur Erstellung von Querschliffen, Oberflächenpolitur eingebetteter Proben, Tiefenprofilierung, Sputter-Coating
langlebige Hochleistungsblende

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Interessensbereich

Rasterelektronenmikroskope (REM) Focused Ion Beam Systeme (FIB) Transmissionselektronenmikroskope (TEM) Präparationssysteme (REM/TEM) Elektronenstrahlmikrosonden Augerspektroskopie Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS/ESCA)

Elektronenstrahllithographie Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) NMR Spektrometer Massenspektrometrie Analytical Service Veranstaltungen / Schulungen Sonstiges

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