Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs. Neuwertiges System aus unserem Applikationslabor.

Das InTouchScope JSM-IT200 zeichnet sich durch alle Funktionen eines voll ausgestatteten Rasterelektronenmikroskops mit Wolframkathode und integrierter EDS-Analyse in kompaktem, ergonomischem und intuitivem Design aus. Die Installation ist denkbar einfach, da weder Kühlwasser- noch Gasanschluss nötig sind.

Praktische Funktionen für Benutzer aller Erfahrungs-Levels:

• Höchste Bildauflösung im HV/LV/SE/BSE-Modus
• Zeromag-Modus für den intuitiven Übergang zwischen lichtoptischem und REM-Bild
  
• Chemische Analytik durch optionales, integriertes EDS mit live-Analyse
• Multi-Touch Benutzeroberfläche und Remote Control
• Zahlreiche Automatik-Funktionen und vorgefertigte Rezepte für unterschiedliche Probentypen
• Mehrkanal-Live-Bild und Videoaufnahme gleichzeitig möglich
• Schnelle Probennavigation bei 5x – 300.000x Vergrößerung
• Smile View Premium Offline-Software mit Bildschärfung, Bildmontage, Positionsausrichtung und Überlagerung
• Kompakte Stellfläche: ca. 0,5m²

Intuitiv bedienbares Rasterelektronenmikroskop mit vollständig Hard- und Software-integriertem EDX-System und Niedervakuummodus, das es zum idealen Allrounder auch für nicht-leitfähige Proben macht. Neuwertiges System aus unserem Applikationslabor.

• „Live 3D“: REM-Bild und rekonstruiertes 3D-Oberflächenbild in Echtzeit. Diese neue Funktion ermöglicht es, topografische Informationen und Tiefeninformationen von Proben zusammen mit REM-Bildinformationen der Probenoberflächen zu erfassen.
• Vollwertige Elektronenoptik: Vergrößerung bis x100.000 und einfacher Kathodenaustausch durch vorzentrierte Wolfram-Filamente.
• Die automatische Einstellung der Betriebsparameter basierend auf Probentyp und Fragestellung bietet hochwertige Ergebnisse und verbessert die Produktivität.
• JEOL ZeroMag-Funktion: Stufenloser Übergang zwischen licht- und elektronenoptischer Abbildung für einfachste Probennavigation.
• Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten.
• Voll-automatisierte Aufnahmen von REM-Abbildungen und Elementverteilungsbildern für hochaufgelöste Übersichtsmontagen.
• Für die Untersuchung nichtleitender Materialien steht ein auf Knopfdruck zuschaltbares Niedervakuumsystem zur Verfügung.
• Große Kammer für Proben bis 80 mm Durchmesser und 50 mm Höhe.
• Einfache Installation – Eine Steckdose reicht für den Betrieb vollkommen aus!
• Kompakte Bauform für den mobilen REM-Einsatz.

Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
JEOL Cross Section-Polisher IB-19530CP aus unserem Applikationslabor.

• Hoher Durchsatz durch Hochgeschwindigkeits-Ionenquelle und Auto-Start-Funktion
  
• Automatische Bearbeitungsprogramme: High-Speed-Milling und Finishing, Intermitted-Milling
• Einfacher Probeneinbau durch innovatives Halterkonzept
• Multifunktionsbühne zur Erstellung von Querschliffen, Oberflächenpolitur eingebetteter Proben, Tiefenprofilierung, Sputter-Coating
• langlebige Hochleistungsblende